Tag: scanning electron microscope (SEM)
-
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้อิเล็กตรอนที่ผ่านความต่างศักย์ไฟฟ้าไม่เกิน 30 กิโลโวลต์ ทำให้อิเล็กตรอน มีอัตราเร็วไม่เกิน 0.33 ...
Hits9ให้คะแนนAverage rating