กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
โดย :
สถาบันส่งเสริมการสอนวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (สสวท.)
เมื่อ :
วันอาทิตย์, 20 ตุลาคม 2567
Hits
1
-
ศัพท์ภาษาไทยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
-
ศัพท์ภาษาอังกฤษscanning electron microscope (SEM)
วิชา
ฟิสิกส์
กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้อิเล็กตรอนที่ผ่านความต่างศักย์ไฟฟ้าไม่เกิน 30 กิโลโวลต์ ทำให้อิเล็กตรอน
มีอัตราเร็วไม่เกิน 0.33 เท่าของอัตราเร็วแสง ซึ่งอิเล็กตรอนยังคงแสดงสมบัติของคลื่นตามหลักของฟิสิกส์ควอนตัม
โดยมีความยาวคลื่นเดอบรอยล์มากกว่า 7.0 พิโกเมตรและสามารถควบคุมการเคลื่อนที่
ของอิเล็กตรอนด้วยสนามไฟฟ้าและสนามแม่เหล็กอิเล็กตรอนจะสะท้อนกับผิวของวัตถุขนาดเล็ก
ทำให้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสามารถมีกำลังขยายได้ถึงประมาณ 1 ล้านเท่า
คำสำคัญ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
กลุ่มเป้าหมาย
ครู, นักเรียน, บุคคลทั่วไป
ประเภท
Text
ผู้แต่ง หรือ เจ้าของผลงาน
สถาบันส่งเสริมการสอนวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (สสวท.)
ลิขสิทธิ์
สถาบันส่งเสริมการสอนวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (สสวท.)
-
17045 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด /escivocab-physics/item/17045-scanning-electron-microscope-semเพิ่มในรายการโปรด
-
คำที่เกี่ยวข้อง