กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
โดย :
สถาบันส่งเสริมการสอนวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (สสวท.)
เมื่อ :
วันอาทิตย์, 20 ตุลาคม 2567
Hits
3
-
ศัพท์ภาษาไทยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
-
ศัพท์ภาษาอังกฤษtransmission electron microscope (TEM)
วิชา
ฟิสิกส์
กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้อิเล็กตรอนที่ผ่านความต่างศักย์ไฟฟ้าแรงสูงตั้งแต่ 40 ถึง 400 กิโลโวลต์
ทำให้อิเล็กตรอนมีอัตราเร็วตั้งแต่ 0.37 ถึง 0.83 เท่าของอัตราเร็วแสง จนอิเล็กตรอนแสดงสมบัติของคลื่น
ตามหลักของฟิสิกส์ควอนตัม โดยมีความยาวคลื่นเดอบรอยล์ตั้งแต่ 6.0 จนถึง 1.6 พิโกเมตร
และสามารถควบคุมการเคลื่อนที่ของอิเล็กตรอนด้วยสนามไฟฟ้าและสนามแม่เหล็ก
อิเล็กตรอนจะเคลื่อนที่ผ่านและสะท้อนกับวัตถุที่มีขนาดน้อยกว่า 50 พิโกเมตร
ทำให้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านสามารถมีกำลังขยายได้ถึงประมาณ 50 ล้านเท่า
คำสำคัญ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
กลุ่มเป้าหมาย
ครู, นักเรียน, บุคคลทั่วไป
ประเภท
Text
ผู้แต่ง หรือ เจ้าของผลงาน
สถาบันส่งเสริมการสอนวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (สสวท.)
ลิขสิทธิ์
สถาบันส่งเสริมการสอนวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (สสวท.)
-
17044 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน /escivocab-physics/item/17044-transmission-electron-microscope-temเพิ่มในรายการโปรด
-
คำที่เกี่ยวข้อง